Каталог стандартов

+7 (495) 223-46-76 +7 (812) 309-78-59
inform@normdocs.ru

BS EN 62047-17:2015

Действует
Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices. Bulge test method for measuring mechanical properties of thin films — 32 стр.
ICS
31.080.99 Other semiconductor devices / Полупроводниковые приборы прочие