Каталог стандартов
+7 (495) 223-46-76
+7 (812) 309-78-59
inform@normdocs.ru
О компании
Стандарты
Контакты
Заказать стандарт
Стандарты
BSI
BS EN 62047-17:2015
Действует
Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices. Bulge test method for measuring mechanical properties of thin films
— 32 стр.
Описание
Изменения
Ссылки
Версии
Ссылочные документы
IEC 62047-2:2006 ed1.0
Действует
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 2: Tensile testing method of thin film materials
— 25 стр.
BS EN 62047-2:2006
Действует
Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices. Tensile testing method of thin film materials
— 16 стр.
