Каталог стандартов
+7 (495) 223-46-76
+7 (812) 309-78-59
inform@normdocs.ru
О компании
Стандарты
Контакты
Заказать стандарт
Стандарты
BSI
BS EN 62047-6:2010
Действует
Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices. Axial fatigue testing methods of thin film materials
— 18 стр.
Описание
Изменения
Ссылки
Версии
Ссылочные документы
BS EN 62047-2:2006
Действует
Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices. Tensile testing method of thin film materials
— 16 стр.
ASTM E1823-05a
Заменен
Standard Terminology Relating to Fatigue and Fracture Testing
— 21 стр.
IEC 62047-2:2006 ed1.0
Действует
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 2: Tensile testing method of thin film materials
— 25 стр.
ISO 10993-4:2002/Amd.1:2006
Заменен
Biological evaluation of medical devices -- Part 4: Selection of tests for interactions with blood -- Amendment 1
— 10 стр.
ASTM E466-96
Заменен
Standard Practice for Conducting Force Controlled Constant Amplitude Axial Fatigue Tests of Metallic Materials
— 5 стр.
BS ISO 6892-4:2015
Действует
Metallic materials. Tensile testing. Method of test in liquid helium
— 22 стр.
BS ISO 12107:2003
Действует
Metallic materials. Fatigue testing. Statistical planning and analysis of data
— 36 стр.
На этот документ ссылаются
BS EN 62047-18:2013
Действует
Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices. Bend testing methods of thin film materials
— 16 стр.
ÖVE/ÖNORM EN 62047-18:2014-06
Действует
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 18: Bend testing methods of thin film materials (IEC 62047-18:2013) (english version)
