Каталог стандартов

+7 (495) 223-46-76 +7 (812) 309-78-59
inform@normdocs.ru
О компании Стандарты Контакты Заказать стандарт
СтандартыDIN

DIN 50435:1980-02

Отменен
Testing of semiconductive inorganic materials; determination of the radial resistivity variation of silicon or germanium slices, by means of a four-point-DC-probe — 3 стр.
ОписаниеИзмененияСсылкиВерсии
DIN 50435:1980-02
Отменен
DIN 50435:1988-05
Отменен