Каталог стандартов
+7 (495) 223-46-76
+7 (812) 309-78-59
inform@normdocs.ru
О компании
Стандарты
Контакты
Заказать стандарт
Стандарты
DIN
DIN 50439:1982-10
Отменен
Testing of materials for semiconductor technology; determination of the dopant concentration profile of single crystalline semiconductor material by means of the capacitancevoltage method and mercury contact
— 6 стр.
Описание
Изменения
Ссылки
Версии
ICS
29.045 Semiconducting materials / Полупроводниковые материалы
