DIN EN 60749-44:2014-08

Отменен

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 44: Neutron beam irradiated single event effect (SEE) test method for semiconductor devices (IEC 47/2193/CD:2014)

Описание Изменения Ссылки Версии

На этот документ ссылаются

DIN EN 60749-44:2017-04

Действует

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 44: Neutron beam irradiated single event effect (SEE) test method for semiconductor devices (IEC 60749-44:2016); German version EN 60749-44:2016 — 22 стр.