Каталог стандартов

+7 (495) 223-46-76 +7 (812) 309-78-59
inform@normdocs.ru

DIN EN 60749-44:2017-04

Действует
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 44: Neutron beam irradiated single event effect (SEE) test method for semiconductor devices (IEC 60749-44:2016); German version EN 60749-44:2016 — 22 стр.
ICS
31.080.01 Semiconductor devices in general / Полупроводниковые приборы в целом