Каталог стандартов

+7 (495) 223-46-76 +7 (812) 309-78-59
inform@normdocs.ru
О компании Стандарты Контакты Заказать стандарт
СтандартыDIN

DIN 50433-3:1982-04

Отменен
Testing of materials for semiconductor technology; determination of the orientation of single crystals by means of Laue back scattering — 8 стр.
ОписаниеИзмененияСсылкиВерсии
Без обозначения
DIN 50433-3:1982-04
Отменен