DIN 50441-5:2001-04

Отменен

Testing of materials for semiconductor technology - Determination of the geometric dimensions of semiconductor wafers - Part 5: Terms of shape and flatness deviation — 11 стр.

Описание Изменения Ссылки Версии

ICS

29.045 Semiconducting materials / Полупроводниковые материалы

01.040.29 Electrical engineering (Vocabularies) / Электротехника (Словари)