Каталог стандартов

+7 (495) 223-46-76 +7 (812) 309-78-59
inform@normdocs.ru

DIN 50454-1:1991-11

Отменен
Testing of materials for semiconductor technology; determination of the dislocations etch pits density in monocrystals of III-V-compound semiconductors; galliumarsenide — 4 стр.
DIN 50454-1:1991-11
Отменен
DIN 50454-1:2000-07
Отменен