DIN EN IEC 60749-13:2018-10

Действует

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 13: Salt atmosphere (IEC 60749-13:2018); German version EN IEC 60749-13:2018 — 15 стр.

Описание Изменения Ссылки Версии

Ссылочные документы

IEC 60749-14:2003 ed1.0

Действует

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 14: Robustness of terminations (lead integrity) — 27 стр.

DIN EN 60749-13:2003-04

Отменен

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 13: Salt atmosphere (IEC 60749-13:2002); German version EN 60749-13:2002 — 8 стр.

DIN EN 60749-13:2017-07

Отменен

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 13: Salt atmosphere (IEC 47/2377/CDV:2017); German version prEN 60749-13:2017

На этот документ ссылаются

DIN EN 60749-13:2003-04

Отменен

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 13: Salt atmosphere (IEC 60749-13:2002); German version EN 60749-13:2002 — 8 стр.