Каталог стандартов

+7 (495) 223-46-76 +7 (812) 309-78-59
inform@normdocs.ru
О компании Стандарты Контакты Заказать стандарт

DIN EN 62047-14:2010-10

Отменен
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 14: Forming limit measuring method of metallic film materials (IEC 47F/59/CD:2010)
ОписаниеИзмененияСсылкиВерсии
DIN EN 62047-14:2010-10
Отменен