Каталог стандартов

+7 (495) 223-46-76 +7 (812) 309-78-59
inform@normdocs.ru

DIN 50454-3:1994-10

Отменен
Testing of materials for semiconductor technology - Determination of the dislocation etch pits density in monocrystals of III-V-compound semiconductors - Part 3: Gallium phosphide — 2 стр.
ICS
29.045 Semiconducting materials / Полупроводниковые материалы