Каталог стандартов
+7 (495) 223-46-76
+7 (812) 309-78-59
inform@normdocs.ru
О компании
Стандарты
Контакты
Заказать стандарт
Стандарты
DIN
DIN 50440-1:1981-11
Отменен
Testing of materials for semiconductor technology; measurement of recombination carrier lifetime in silicon single crystals by means of photo conductive decay method; measurement on bar-shaped specimens
— 5 стр.
Описание
Изменения
Ссылки
Версии
Заменен на
DIN 50440:1998-11
ICS
29.045 Semiconducting materials / Полупроводниковые материалы
