Стандарты DIN

DIN 41852:1978-08

Отменен

Semiconductor engineering; terms and definitions — 14 стр.

Описание Изменения Ссылки Версии

Ссылочные документы

DIN IEC 60747-1:1987-03

Отменен

Semiconductor devices; discrete devices and integrated circuits; general; identical with IEC 60747-1, edition 1983

На этот документ ссылаются

DIN 41863:1972-11

Отменен

Hall effect devices; terms and definitions — 5 стр.

DIN 41854:1979-04

Отменен

(Bipolar) transistors; terms and definitions — 10 стр.

DIN 50440-1:1981-11

Отменен

Testing of materials for semiconductor technology; measurement of recombination carrier lifetime in silicon single crystals by means of photo conductive decay method; measurement on bar-shaped specimens — 5 стр.