Каталог стандартов

+7 (495) 223-46-76 +7 (812) 309-78-59
inform@normdocs.ru
О компании Стандарты Контакты Заказать стандарт

DIN EN 62047-15:2012-11

Отменен
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 15: Test method of bonding quality between PDMS and glass (IEC 47F/126/CD:2012)
ОписаниеИзмененияСсылкиВерсии

На этот документ ссылаются

DIN EN 62047-15:2016-01
Отменен
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 15: Test method of bonding strength between PDMS and glass (IEC 62047-15:2015); German version EN 62047-15:2015 — 13 стр.