Каталог стандартов

+7 (495) 223-46-76 +7 (812) 309-78-59
inform@normdocs.ru
О компании Стандарты Контакты Заказать стандарт
СтандартыDIN

DIN 50441-4:1987-07

Отменен
Testing of materials for semiconductor technology; measurement of the geometric dimensions of semiconductor slices; diameter and flat depth of slices — 4 стр.
ОписаниеИзмененияСсылкиВерсии
Заменен на
Без обозначения
ICS
29.045 Semiconducting materials / Полупроводниковые материалы