Каталог стандартов

+7 (495) 223-46-76 +7 (812) 309-78-59
inform@normdocs.ru
О компании Стандарты Контакты Заказать стандарт
СтандартыDIN

DIN 50433-1:1976-12

Отменен
Testing of semi-conducting inorganic materials; determining the orientation of single crystals by means of X-ray diffraction — 3 стр.
ОписаниеИзмененияСсылкиВерсии
ICS
29.045 Semiconducting materials / Полупроводниковые материалы