Каталог стандартов
+7 (495) 223-46-76
+7 (812) 309-78-59
inform@normdocs.ru
О компании
Стандарты
Контакты
Заказать стандарт
Стандарты
DIN
DIN 50441-1:1996-07
Отменен
Testing of materials for semiconductor technology - Determination of the geometric dimensions of semiconductor wafers - Part 1: Thickness and thickness variation
— 4 стр.
Описание
Изменения
Ссылки
Версии
ICS
29.045 Semiconducting materials / Полупроводниковые материалы
