Каталог стандартов

+7 (495) 223-46-76 +7 (812) 309-78-59
inform@normdocs.ru
О компании Стандарты Контакты Заказать стандарт
СтандартыDIN

DIN 50441-1:1996-07

Отменен
Testing of materials for semiconductor technology - Determination of the geometric dimensions of semiconductor wafers - Part 1: Thickness and thickness variation — 4 стр.
ОписаниеИзмененияСсылкиВерсии
DIN 50441-1:1981-02
Отменен
DIN 50441-1:1996-07
Отменен