Каталог стандартов
+7 (495) 223-46-76
+7 (812) 309-78-59
inform@normdocs.ru
О компании
Стандарты
Контакты
Заказать стандарт
Стандарты
DIN
DIN 50441-1:1981-02
Отменен
Testing of semiconductive inorganic materials; determination of the geometric dimensions of semiconductor slices; measurement of thickness
— 2 стр.
Описание
Изменения
Ссылки
Версии
Заменен на
DIN 50441-1:1996-07
ICS
29.045 Semiconducting materials / Полупроводниковые материалы
