Каталог стандартов

+7 (495) 223-46-76 +7 (812) 309-78-59
inform@normdocs.ru
О компании Стандарты Контакты Заказать стандарт
СтандартыDIN

DIN 50441-1:1981-02

Отменен
Testing of semiconductive inorganic materials; determination of the geometric dimensions of semiconductor slices; measurement of thickness — 2 стр.
ОписаниеИзмененияСсылкиВерсии
DIN 50441-1:1981-02
Отменен
DIN 50441-1:1996-07
Отменен