IEC 60147-5A:1981 ed1.0

Заменен

Supplement A - Essential ratings and characteristics of semiconductor devices and general principles of measuring methods - Part 5: Mechanical and climatic test methods — 21 стр.

Описание Изменения Ссылки Версии

Ссылочные документы

IEC 60749:1984 ed1.0

Заменен

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods. — 59 стр.

На этот документ ссылаются

BS CECC 16000-1:1992

Действует

Harmonized system of quality assessment for electronic components. Generic specification: electromechanical all-or-nothing relays. General — 92 стр.

IEC 60749:1984 ed1.0

Заменен

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods. — 59 стр.