Каталог стандартов

+7 (495) 223-46-76 +7 (812) 309-78-59
inform@normdocs.ru
О компании Стандарты Контакты Заказать стандарт
СтандартыIEC

IEC 60749-1:2002/COR1:2003 ed1.0

Действует
Corrigendum 1 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 1: General — 0 стр.
ОписаниеИзмененияСсылкиВерсии

Ссылочные документы

IEC 60749-1:2002 ed1.0
Действует
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 1: General — 15 стр.

На этот документ ссылаются

BS EN 62137:2004
Заменен
Environmental and endurance testing. Test methods for surface-mount boards of area array type packages FBGA, BGA, FLGA, LGA, SON and QFN — 30 стр.
IEC 60749-1:2002 ed1.0
Действует
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 1: General — 15 стр.
BS EN 62137-4:2014
Действует
Electronics assembly technology. Endurance test methods for solder joint of area array type package surface mount devices — 48 стр.
BS IEC 60747-14-5:2010
Действует
Semiconductor devices. Semiconductor sensors. PN-junction semiconductor temperature sensor — 20 стр.