Каталог стандартов

+7 (495) 223-46-76 +7 (812) 309-78-59
inform@normdocs.ru

IEC 60749-10:2022 ed2.0

Действует
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 10: Mechanical shock - device and subassembly — 24 стр.
IEC 60749-10:2002 ed1.0
Заменен
IEC PAS 62186:2000 ed1.0
Заменен
IEC 60794-3-40:2008 ed1.0
Заменен
IEC 60749-10:2022 ed2.0
Действует