IEC 60749-14:2003 ed1.0

Действует

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 14: Robustness of terminations (lead integrity) — 27 стр.

Описание Изменения Ссылки Версии

Ссылочные документы

IEC PAS 62184:2000 ed1.0

Заменен

Lead integrity test method — 16 стр.

На этот документ ссылаются

DIN EN 62149-2:2010-05

Отменен

Fibre optic active components and devices - Performance standards - Part 2:850 nm discrete vertical cavity surface emitting laser devices (IEC 62149-2:2009); German version EN 62149-2:2009 — 21 стр.

PD IEC/TS 62686-1:2015

Действует

Process management for avionics. Electronic components for aerospace, defence and high performance (ADHP) applications. General requirements for high reliability integrated circuits and discrete semiconductors — 68 стр.

BS EN 60749-13:2002

Заменен

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Salt atmosphere — 10 стр.

BS EN IEC 60749-13:2018

Действует

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Salt atmosphere — 20 стр.

BS EN 62922:2017

Действует

Organic light emitting diode (OLED) panels for general lighting. Performance requirements — 30 стр.

BS EN 61747-10-1:2013

Действует

Liquid crystal display devices. Environmental, endurance and mechanical test methods. Mechanical — 14 стр.

DIN EN IEC 60749-13:2018-10

Действует

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 13: Salt atmosphere (IEC 60749-13:2018); German version EN IEC 60749-13:2018 — 15 стр.

ÖVE/ÖNORM EN 61747-10-1:2014-08

Действует

Liquid crystal display devices - Part 10-1: Environmental, endurance and mechanical test methods - Mechanical (IEC 61747-10-1:2013) (english version)

DIN EN 62922:2017-08

Отменен

Organic light emitting diode (OLED) panels for general lighting - Performance Requirements (IEC 62922:2016); German version EN 62922:2017 — 27 стр.

IEC PAS 62184:2000 ed1.0

Заменен

Lead integrity test method — 16 стр.