IEC 60749-16:2003 ed1.0

Действует

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 16: Particle impact noise detection (PIND) — 13 стр.

Описание Изменения Ссылки Версии

Ссылочные документы

IEC PAS 62171:2000 ed1.0

Заменен

Guidelines for particle impact noise detection (PIND) testing, operator training and certification — 41 стр.

На этот документ ссылаются

DIN EN 62149-2:2010-05

Отменен

Fibre optic active components and devices - Performance standards - Part 2:850 nm discrete vertical cavity surface emitting laser devices (IEC 62149-2:2009); German version EN 62149-2:2009 — 21 стр.

IEC PAS 62171:2000 ed1.0

Заменен

Guidelines for particle impact noise detection (PIND) testing, operator training and certification — 41 стр.