Каталог стандартов

+7 (495) 223-46-76 +7 (812) 309-78-59
inform@normdocs.ru
О компании Стандарты Контакты Заказать стандарт
СтандартыIEC

IEC 60749-16:2003 ed1.0

Действует
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 16: Particle impact noise detection (PIND) — 13 стр.
ОписаниеИзмененияСсылкиВерсии
IEC PAS 62171:2000 ed1.0
Заменен
IEC 60749-16:2003 ed1.0
Действует