Каталог стандартов

+7 (495) 223-46-76 +7 (812) 309-78-59
inform@normdocs.ru
О компании Стандарты Контакты Заказать стандарт
СтандартыIEC

IEC 60749-21:2004 ed1.0

Заменен
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 21: Solderability — 45 стр.
ОписаниеИзмененияСсылкиВерсии

Ссылочные документы

IEC 60749-21:2011 ed2.0
Действует
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 21: Solderability — 44 стр.
IEC PAS 62173:2000 ed1.0
Заменен
Solderability test method — 17 стр.

На этот документ ссылаются

IEC 60749-21:2011 ed2.0
Действует
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 21: Solderability — 44 стр.
BS EN 62435-5:2017
Действует
Electronic components. Long-term storage of electronic semiconductor devices. Die and wafer devices — 24 стр.
PD IEC/TS 62686-1:2015
Действует
Process management for avionics. Electronic components for aerospace, defence and high performance (ADHP) applications. General requirements for high reliability integrated circuits and discrete semiconductors — 68 стр.
18/30367158 DC
Действует
BS EN 62435-3. Electronic components. Long-term storage of electronic semiconductor devices. Part 3. Data — 15 стр.
18/30386178 DC
Действует
BS EN 62787. Concentrator photovoltaic (CPV) solar cells and cell-on-carrier (COC) assemblies. Reliability qualification — 33 стр.
BS EN 60747-15:2012
Действует
Semiconductor devices. Discrete devices. Isolated power semiconductor devices — 28 стр.
IEC PAS 62173:2000 ed1.0
Заменен
Solderability test method — 17 стр.