Каталог стандартов

+7 (495) 223-46-76 +7 (812) 309-78-59
inform@normdocs.ru
О компании Стандарты Контакты Заказать стандарт
СтандартыIEC

IEC 60749-3:2002/COR1:2003 ed1.0

Заменен
Corrigendum 1 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 3: External visual examination — 0 стр.
ОписаниеИзмененияСсылкиВерсии

Ссылочные документы

IEC 60749-3:2017 ed2.0
Действует
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 3: External visual examination — 11 стр.
IEC 60749-3:2002 ed1.0
Заменен
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 3: External visual inspection — 7 стр.

На этот документ ссылаются

IEC 60749-3:2017 ed2.0
Действует
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 3: External visual examination — 11 стр.
IEC 60749-3:2002 ed1.0
Заменен
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 3: External visual inspection — 7 стр.