Каталог стандартов
+7 (495) 223-46-76
+7 (812) 309-78-59
inform@normdocs.ru
О компании
Стандарты
Контакты
Заказать стандарт
Стандарты
IEC
IEC 60749-35:2006 ed1.0
Действует
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 35: Acoustic microscopy for plastic encapsulated electronic components
— 43 стр.
Описание
Изменения
Ссылки
Версии
IEC 60749-35:2006 ed1.0
Действует