Каталог стандартов
+7 (495) 223-46-76
+7 (812) 309-78-59
inform@normdocs.ru
О компании
Стандарты
Контакты
Заказать стандарт
Стандарты
IEC
IEC 60749-37:2022 ed2.0
Действует
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 37: Board level drop test method using an accelerometer
— 43 стр.
Описание
Изменения
Ссылки
Версии
Ссылочные документы
IEC 60749-37:2008 ed1.0
Заменен
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 37: Board level drop test method using an accelerometer
— 39 стр.
На этот документ ссылаются
IEC 60749-37:2008 ed1.0
Заменен
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 37: Board level drop test method using an accelerometer
— 39 стр.