Каталог стандартов

+7 (495) 223-46-76 +7 (812) 309-78-59
inform@normdocs.ru
О компании Стандарты Контакты Заказать стандарт
СтандартыIEC

IEC 60749-4:2017 ed2.0

Действует
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 4: Damp heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST) — 9 стр.
ОписаниеИзмененияСсылкиВерсии

Ссылочные документы

IEC 60749-4:2002/COR1:2003 ed1.0
Заменен
Corrigendum 1 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 4: Damp heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST) — 0 стр.
IEC 60749-4:2002 ed1.0
Заменен
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 4: Damp heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST) — 15 стр.

На этот документ ссылаются

BS EN 60749-5:2017
Действует
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Steady-state temperature humidity bias life test — 16 стр.
IEC 60749-4:2002 ed1.0
Заменен
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 4: Damp heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST) — 15 стр.
IEC 60749-4:2002/COR1:2003 ed1.0
Заменен
Corrigendum 1 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 4: Damp heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST) — 0 стр.