Каталог стандартов

+7 (495) 223-46-76 +7 (812) 309-78-59
inform@normdocs.ru
О компании Стандарты Контакты Заказать стандарт
СтандартыIEC

IEC 60749-6:2002 ed1.0

Заменен
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 6: Storage at high temperature — 7 стр.
ОписаниеИзмененияСсылкиВерсии
IEC 60749-6:2002/COR1:2003 ed1.0
Заменен
Corrigendum 1 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 6: Storage at high temperature — 0 стр.