Каталог стандартов

+7 (495) 223-46-76 +7 (812) 309-78-59
inform@normdocs.ru
О компании Стандарты Контакты Заказать стандарт
СтандартыIEC

IEC 60749-6:2017 ed2.0

Действует
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 6: Storage at high temperature — 8 стр.
ОписаниеИзмененияСсылкиВерсии

Ссылочные документы

IEC 60749-6:2002/COR1:2003 ed1.0
Заменен
Corrigendum 1 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 6: Storage at high temperature — 0 стр.
IEC 60749-6:2002 ed1.0
Заменен
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 6: Storage at high temperature — 7 стр.

На этот документ ссылаются

BS EN 60749-43:2017
Действует
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods. Guidelines for IC reliability qualification plans — 42 стр.
18/30386178 DC
Действует
BS EN 62787. Concentrator photovoltaic (CPV) solar cells and cell-on-carrier (COC) assemblies. Reliability qualification — 33 стр.
17/30355772 DC
Действует
BS EN 62047-33. Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices. Part 33. MEMS piezoresistive pressure-sensitive device — 25 стр.
IEC 60749-6:2002/COR1:2003 ed1.0
Заменен
Corrigendum 1 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 6: Storage at high temperature — 0 стр.
IEC 60749-6:2002 ed1.0
Заменен
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 6: Storage at high temperature — 7 стр.