IEC 62047-17:2015 ed1.0

Действует

Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 17: Bulge test method for measuring mechanical properties of thin films — 54 стр.

Описание Изменения Ссылки Версии

На этот документ ссылаются

BS IEC 62951-3:2018

Действует

Semiconductor devices. Flexible and stretchable semiconductor devices. Evaluation of thin film transistor characteristics on flexible substrates under bulging — 24 стр.