Каталог стандартов
+7 (495) 223-46-76
+7 (812) 309-78-59
inform@normdocs.ru
О компании
Стандарты
Контакты
Заказать стандарт
Стандарты
IEC
IEC 62047-17:2015 ed1.0
Действует
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 17: Bulge test method for measuring mechanical properties of thin films
— 54 стр.
Описание
Изменения
Ссылки
Версии
IEC 62047-17:2015 ed1.0
Действует
