Каталог стандартов

+7 (495) 223-46-76 +7 (812) 309-78-59
inform@normdocs.ru
О компании Стандарты Контакты Заказать стандарт
СтандартыIEC

IEC 62047-21:2014 ed1.0

Действует
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 21: Test method for Poisson's ratio of thin film MEMS materials — 26 стр.
ОписаниеИзмененияСсылкиВерсии
IEC 62047-21:2014 ed1.0
Действует