Каталог стандартов
+7 (495) 223-46-76
+7 (812) 309-78-59
inform@normdocs.ru
О компании
Стандарты
Контакты
Заказать стандарт
Стандарты
IEC
IEC 62047-6:2009 ed1.0
Действует
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 6: Axial fatigue testing methods of thin film materials
— 30 стр.
Описание
Изменения
Ссылки
Версии
На этот документ ссылаются
BS EN 62047-18:2013
Действует
Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices. Bend testing methods of thin film materials
— 16 стр.
ÖVE/ÖNORM EN 62047-18:2014-06
Действует
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 18: Bend testing methods of thin film materials (IEC 62047-18:2013) (english version)
