Каталог стандартов
+7 (495) 223-46-76
+7 (812) 309-78-59
inform@normdocs.ru
О компании
Стандарты
Контакты
Заказать стандарт
Стандарты
IEC
IEC 62047-8:2011 ed1.0
Действует
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 8: Strip bending test method for tensile property measurement of thin films
— 36 стр.
Описание
Изменения
Ссылки
Версии
IEC 62047-8:2011 ed1.0
Действует
