Каталог стандартов

+7 (495) 223-46-76 +7 (812) 309-78-59
inform@normdocs.ru
О компании Стандарты Контакты Заказать стандарт
СтандартыIEC

IEC 62374-1:2010 ed1.0

Действует
Semiconductor devices - Part 1: Time-dependent dielectric breakdown (TDDB) test for inter-metal layers — 32 стр.
ОписаниеИзмененияСсылкиВерсии

На этот документ ссылаются

PD IEC/TS 62686-1:2015
Действует
Process management for avionics. Electronic components for aerospace, defence and high performance (ADHP) applications. General requirements for high reliability integrated circuits and discrete semiconductors — 68 стр.