Каталог стандартов

+7 (495) 223-46-76 +7 (812) 309-78-59
inform@normdocs.ru
О компании Стандарты Контакты Заказать стандарт
СтандартыIEC

IEC 62374-1:2010 ed1.0

Действует
Semiconductor devices - Part 1: Time-dependent dielectric breakdown (TDDB) test for inter-metal layers — 32 стр.
ОписаниеИзмененияСсылкиВерсии
IEC 62374-1:2010 ed1.0
Действует