Каталог стандартов

+7 (495) 223-46-76 +7 (812) 309-78-59
inform@normdocs.ru
О компании Стандарты Контакты Заказать стандарт

IEC PAS 62184:2000 ed1.0

Заменен
Lead integrity test method — 16 стр.
ОписаниеИзмененияСсылкиВерсии

Ссылочные документы

IEC 60749-14:2003 ed1.0
Действует
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 14: Robustness of terminations (lead integrity) — 27 стр.

На этот документ ссылаются

IEC 60749-14:2003 ed1.0
Действует
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 14: Robustness of terminations (lead integrity) — 27 стр.