Каталог стандартов

+7 (495) 223-46-76 +7 (812) 309-78-59
inform@normdocs.ru
О компании Стандарты Контакты Заказать стандарт

IEC PAS 62189:2000 ed1.0

Заменен
Bias Life — 6 стр.
ОписаниеИзмененияСсылкиВерсии

Ссылочные документы

IEC 60749-23:2004 ed1.0
Действует
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 23: High temperature operating life — 17 стр.

На этот документ ссылаются

IEC 60749-23:2004 ed1.0
Действует
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 23: High temperature operating life — 17 стр.