Каталог стандартов
+7 (495) 223-46-76
+7 (812) 309-78-59
inform@normdocs.ru
О компании
Стандарты
Контакты
Заказать стандарт
Стандарты
ISO
ISO 16413:2013
Действует
Evaluation of thickness, density and interface width of thin films by X-ray reflectometry -- Instrumental requirements, alignment and positioning, data collection, data analysis and reporting
— 38 стр.
Описание
Изменения
Ссылки
Версии
На этот документ ссылаются
SAE J2342_201910
Действует
Numbering Systems for End Mills (Stabilized: Oct 2019)
