OVE EN IEC 60749-18:2020-03

Действует

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 18: Ionizing radiation (total dose) (( IEC 60749-18:2019) EN IEC 60749-18:2019) (english version)

Описание Изменения Ссылки Версии

На этот документ ссылаются

DIN IEC 60747-3:1992-04

Отменен

Semiconductor devices; discrete devices; part 3: signal diodes and regulator diodes; identical with IEC 60747-3:1985 — 34 стр.