ÖVE/ÖNORM EN 60749-26:2014-10

Заменен

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 26: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Human body model (HBM) (IEC 60749-26:2013) (english version)

Описание Изменения Ссылки Версии

Ссылочные документы

IEC 60749-27:2006+AMD1:2012 CSV ed2.1

Действует

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part27: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Machine model (MM) — 25 стр.

IEC 60749-27:2006/AMD1:2012 ed2.0

Действует

Amendment 1 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 27: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Machine model (MM) — 5 стр.

IEC 60749-27:2006 ed2.0

Действует

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 27: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Machine model (MM) — 25 стр.