ÖVE/ÖNORM EN 60749-40:2012-04

Действует

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 40: Board level drop test method using a strain gauge (IEC 60749-40:2011) (english version)

Описание Изменения Ссылки Версии

Ссылочные документы

IEC 60749-37:2008 ed1.0

Заменен

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 37: Board level drop test method using an accelerometer — 39 стр.

BS EN 60749-37:2008

Действует

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Board level drop test method using an accelerometer — 22 стр.