ÖVE/ÖNORM EN 60749-42:2015-07

Действует

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 42: Temperature and humidity storage (IEC 60749-42:2014) (english version)

Описание Изменения Ссылки Версии

Ссылочные документы

IEC 60749-20:2002 ed1.0

Заменен

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 20: Resistance of plastic-encapsulated SMDs to the combined effect of moisture and soldering heat — 49 стр.