ÖVE/ÖNORM EN 62047-22:2015-06

Действует

Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 22: Electromechanical tensile test method for conductive thin films on flexible substrates (IEC 62047-22:2014) (english version)

Описание Изменения Ссылки Версии

ICS

01.080.99 Other graphical symbols / Графические обозначения прочие

31.080.01 Semiconductor devices in general / Полупроводниковые приборы в целом

31.220.01 Electromechanical components in general / Электромеханические компоненты в целом